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Sonde d'introduction directee, DIP Direct Inlet Probe - SRA Instruments

DIP Direct Inlet Probe

Sonde d’introduction directe pour MS et MSMS

Description

La première sonde SIM d’entrée directe (DIP) a été initialement développée pour le MSD Agilent 5973 en impact électronique et en mode CI. Maintenant, ce système est disponible pour tous les MSD 5975 et MSMS Triple Quad 7000 d’Agilent Technologies.

Le système DIP permet l’analyse directe des échantillons liquides et solides qui ne nécessitent pas de séparation chromatographique. Ainsi la gamme d’application en GC/MS est plus étendue et plus rapide. L’ajout d’un passeur CombiPal permet un screening de méthodes plus rapide et une automatisation complète des opérations d’analyse en introduction directe.

Le cœur de la technologie DIP SIM est le sas à vide avec sa sonde chauffée et en même temps une voie de gaz de purge.
La sonde peut être programmée avec 3 rampes et des vitesses de chauffage de 0,1 à 2 °C/s jusqu’à 400 °C.

Le système d’introduction directe est géré par un logiciel très simple d’utilisation. La température est programmable avec plusieurs paliers pour une meilleure optimisation par étapes. Durant le fonctionnement, l’état de l’avancement et le temps de l’analyse sont affichés.

L’acquisition automatique dans la Chemstation ou Mass Hunter est activée par le démarrage de l’introduction directe.

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